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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Acceleratedmoistureresistance-UnbiasedHAST
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.加速耐湿性.无偏差HAST
【标准号】:BSEN60749-24-2004
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2004-06-24
【实施或试行日期】:2004-06-24
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;高压釜;机械试验;试验;气候;破坏试验;耐力;气候试验;电子工程;集成电路;试验条件;寿命;温度试验;半导体器件;电学测量;水分检验;电气工程;组件;抗湿;粘结强度;电子设备及元件;定义;环境试验;高压釜过程
【英文主题词】:
【摘要】:Theunbiasedhighlyacceleratedstresstesting(HAST)isperformedforthepurposeofevaluatingthereliabilityofnon-hermeticallypackagedsolid-statedevicesinhumidenvironments.Itisahighlyacceleratedtestwhichemploystemperatureandhumidityundernon-condensingconditionstoacceleratethepenetrationofmoisturethroughtheexternalprotectivematerial(encapsulantorseal)oralongtheinterfacebetweentheexternalprotectivematerialandthemetallicconductorswhichpassthroughit.Biasisnotappliedinthistesttoensurethatthefailuremechanismspotentiallyovershadowedbybiascanbeuncovered(e.g.galvaniccorrosion).Thistestisusedtoidentifyfailuremechanismsinternaltothepackageandisdestructive.NOTEThistestisacompleterewriteofthetestcontainedinClause4CofChapter3ofIEC60749(1996)(withoutbiasvoltage).
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:10P;A4
【正文语种】:英语